芯片推力測試儀?采用電腦控制，實時顯示推、拉力，可記錄推、拉力值以及推、拉力平均值，并由試驗機軟件導出實驗數據。
芯片推力測試儀采用單立柱主體結構，廣泛適用于金屬合金、非金屬材料試樣的拉伸、壓縮、彎曲、剪切、剝離、撕裂等試驗，以及一些產品的特殊試驗?？煽啃愿?，并且容易操作，同時滿足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等多種標準要求，并可根據用戶需求編輯試驗軟件，定制試驗附具，是各類產品和材料制造商、高等院校、科研單位和各級產品質量監(jiān)督部門*的精密儀器。
芯片推力測試儀技術參數：
1. 產品規(guī)格：MX-0230
2． 等級： 0.5級
3． 負荷： 2000N
4． 有效測力范圍：0.1/100-99.9899%;
5． 試驗力分辨率，負荷±500000碼；內外不分檔，且全程分辨率不變。
6． 有效試驗寬度：120mm
7． 有效試驗空間：300mm
8． 試驗速度:：0.001~500mm/min(任意調)
9. 速度精度：示值的±0.5以內；
10．位移測量精度：示值的±0.5以內；
11．變形測量精度：示值的±0.5以內；
12．應力控速率范圍： 0.005～6FS/S
13．應力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設定值的±1%以內；速率≥0.05％FS/S時，為設定值的±0.5%以內；
14．應變控速率范圍： 0.002%～6％FS/S
15．應變控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設定值的±2%以內；速率≥0.05％FS/S時，為設定值的±0.5%以內；
16. 恒力/位移/變形測量范圍：0.5％～99.999％FS
17．恒力/位移/變形測量精度：設定值＜10％FS時, 為設定值的±1%以內； 設定值≥10％FS時, 為設定值的±0.1%以內；
18．試臺升降裝置：快/慢兩種速度控制，可點動；
19．試臺安全裝置：電子限位保護
20．試臺返回：手動可以速度返回試驗初始位置，自動可在試驗結束后自動返回；
21．試驗定時間自動停車,試驗定變形自動停車,試驗定負荷自動停車
22．超載保護：超過負荷10時自動保護；
23. 自動診斷功能，定時對測量系統(tǒng)、驅動系統(tǒng)進行過載、過壓、過流、超負荷等檢查，出現異常情況立即進行保護
23．電源功率： 400W
24．主機重量： 40kg
25. 電源電壓: 220V（單相）
0513-81526002
0513-81526001
18851312788
